Fujishiro H., Naito T., Handa T., Kikuchi Y.
Ключевые слова: bulk, HTS, REBCO, Hall sensor, trapped field distribution, defects, critical current density, homogeneity, critical current distribution, experimental results
Physica C, 2011, v.471, N 21-22, p.893-896
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.